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基恩士 WI-5000 系列干涉式同轴 3D 位移测量仪

关键字:基恩士,WI-5000,位移测量仪

产品简介:
针对最大 10 × 10 mm 的测量区域,可瞬间获取 8 万个点的高度。 由于采用白光干涉原理,不受材质/颜色、死角的影响,实现了微米级的高精度测量。

产品介绍



1.并非以点线测量,而是以“面”进行测量


针对最大10×10 mm的测量区域,可瞬间获取8万个点的高度。由于采用白光干涉原理,不受材质/颜色、死角的影响,实现了微米级的高精度测量。







2.在线实现高速全数检测


测量多点时,需要高精度且高速扫描目标物。因此,往往会将时间浪费在移动载物台上,不易进行全数检测。由于WI-5000系列是以面进行同时测量,因此可大幅缩短测量时间,实现全数检测。







3.大幅削减离线检测工时


为了用于离线检测,备有可固定传感器头的专用底座。 配备可削减检测工时的各种实用功能。改善从简易测量到保存数据等各种情况的可操作性




发布时间:2018年1月19日 15:12 人气:   工控网审核编辑:陈磊
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