应用介绍

【行业】SEMI

【设备】测试分选机

【用途】用于将IC芯片按照要求进行分类和分选

应用场景

tray盘内IC芯片的浮起检测。

解决课题

1、需要满足设备的小型化设计，达到省空间的目的。

2、实现对于芯片1mm浮起的稳定检测。

价值提案

核心产品：智能激光传感器 E3NC

价值点1.

备有网络型放大器，方便导入并监控传感器实时状态。同时，放大器采用分离设计，既保证了检测头的体积小，也可在不同环境下调整放大器设置。

价值点2.

1级激光光源，1m检测距离时的2mm光斑大小，确保IC芯片微小浮起的稳定检测。

相关产品

智能激光传感器E3NC

https://www.fa.omron.com.cn/products/family/3316/

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