SSD使用的闪存颗粒中，eTLC NAND颗粒通常具有更高的P/E次数，这意味着它们具有更长的使用寿命。

影响eTLC SSD寿命的主要因素

可擦/写次数（P/E Cycle）：

eTLC NAND颗粒的P/E次数通常为7000到10000次，远高于TLC NAND颗粒的500到3000次。在相同的使用条件下，eTLC SSD的使用寿命更长。

P/E Cycle表示：在SSD的整个生命周期中，每个存储单元可以被写入和擦除的次数。一旦达到这个限制，存储单元可能会失效，导致数据丢失或性能下降。

写入放大（WAF）：

SSD在写入数据时，由于内部算法和管理的需要，实际写入的数据量可能会大于用户请求写入的数据量。这种现象称为写入放大，它会加速SSD的磨损，缩短其使用寿命。

因此，SSD会导入TRIM功能，可以帮助减少写入放大的影响， TRIM可以通知SSD哪些数据块不再被需要，从而允许SSD更有效地管理其存储空间。

温度和供电稳定性：

高温和供电不稳都会加速SSD的老化，导致数据丢失或硬件损坏。

保持SSD在适当的温度范围内（通常为0°C至70°C）以及使用稳定的电源，可以延长其使用寿命。

容量和DWPD：

SSD的容量越大，通常意味着其有更多的存储单元来分散写入操作，从而延长使用寿命。

即使在高DWPD（每天全盘写入次数）的情况下，eTLC SSD更具有较高的P/E次数，故能保持较长的使用寿命。

因此，在选择SSD产品时，要选择eTLC或DWPD越高的，则寿命越长。

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