OP-Killer AI Camera智能视觉,解决实务痛点

供稿:世平集团

  • 关键词:wpi,Ai,智能视觉
  • 摘要:因应 AI 应用趋势,世平集团成立的应用技术群 (ATU, Application Technology Unit)推出了 OP-Killer方案,搭载了恩智浦(NXP)的 i.MX8M Plus 作为方案主芯片,具备四核心 ARM® Cortex-A53® 和 Cortex-M7® 内核,以及专属神经处理单元( NPU )运行速度可达 2.3 TOPS。专注于机器学习和视觉、高级多媒体以及高可靠性工业自动化领域。可以满足智能家庭、建筑、城市和工业4.0应用的需求。

大联大控股旗下的世平集团,一直以 “产业首选、通路标杆” 作为企业愿景,持续以专业与在地的服务,创造客户、供应商与股东的共荣共赢。

随着 AI 应用技术的快速发展,许多企业或方案商也想进入与 AI 相关的文字、语音或视觉应用等领域。 特别是计算机视觉(Computer Vision)与机器学习 (Machine Learning)的组合,搭配后的应用与效果更为出色。 

因应 AI 应用趋势,世平集团成立的应用技术群 (ATU, Application Technology Unit)推出了 OP-Killer方案,搭载了恩智浦(NXP)的 i.MX8M Plus 作为方案主芯片,具备四核心 ARM® Cortex-A53® 和 Cortex-M7® 内核,以及专属神经处理单元( NPU )运行速度可达 2.3 TOPS。专注于机器学习和视觉、高级多媒体以及高可靠性工业自动化领域。可以满足智能家庭、建筑、城市和工业4.0应用的需求。

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(图1) OP-Killer 方案应用场景示意 

OP-Killer 方案是以核心板与扩充板组成,SOM Board 为主芯片核心板,可独立使用。而I/O Board为扩充板,能够提供丰富的周边支持,使得实际应用上更为弹性与灵活,借此应用于不同的领域,如智能物联网(AIoT)、工业4.0(Industry 4.0)等应用场景,落实智能边缘运算(AI Edge Computing)的概念,创造更多与更好的应用价值。 

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(圖2) OP-Killer 方案外观照片

透过世平集团应用技术团队提供的 OP-Killer 方案应用教程,搭配恩智浦(NXP)提供的机器学习开发环境 eIQ( edge Intelligence Quotient ),能够快速地应用 TensorFlow Lite、ONNX、ArmNN、DeepViewRT 等深度学习框架。仅需将影像、声音等相应的数据,托付(Delegate)给任何一个深度学习框架进行推理(Inference),即可快速解析神经网络来得到结果。且该框架将会透过 OpenVX 数据库与 NPU 芯片作优化的加速运算。经实际测试,MobileNet-SSD对象侦测,推理速度约可达到每80 FPS。MobileNet 对象分类,推理速度更是能达到每秒 329 FPS。 

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(图3) OP-Killer深度学习分类 ( Classification ) 应用示意图

接下来,我们将分享实际应用案例,如何透过世平团提供的 OP-Killer 方案,结合摄像头与 AI 算法,打造成为解决行业痛点的 OP-Killer AI Camera。 

应用行业 / 使用场域:半导体封装测试厂

应用情境(1):引线接合缺陷检验 ( Wire Bond Abnormal Inspection )

集成电路(IC) 内部通常使用引线接合,作业上需要高度准确的精密流程,引线接合的目的,是使用极细的金属导线 (如 金线、铜线 ),将芯片上的接点连接至封装材料上。目前,基于检验规则的自动光学检测(AOI)系统,仍有一定的极限,无法优化到特定的目标检测比例。

OP-Killer AI Camera通过深度学习的模型强化训练后,新系统的异常检测良率,提升到99.99%,除了能协助发现制程中的问题外,更避免稼动率下降与相关的重工(Rework)时间,显著的提升产线效能。 

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(图4) 引线接合示意图 ( 图片取自维基百科,仅供参考) 

In-Tray Abnormal Inspection (托盘收纳异常审验)

IC 自动包装,置入托盘时,偶会发生空料、叠料、歪斜、反转错置等现象。

OP-Killer AI Camera通过深度学习的模型与相应的影像样本强化训练后,新系统即可轻易迅速地辨识与标注,托盘上发生收纳异常的位置,让产线及时排除问题,避免后续的衍生问题,提升 IC 在包装阶段的制程良率。image.png

(图5) 托盘收纳异常检验示意图

结语 :

世平集团应用技术团队提供的 OP-Killer AI Camera 方案,解决了半导体封装测试厂的引线接合以及托盘收纳,两个工段的检验痛点。前者提升的作业的良率与产线稼动率,后者避免了数量短少、IC 位置异常等包装问题。 

无论在何种场域、应用场景,世平集团的 OP-Killer AI Camera 方案,都可以针对 AI 电脑视觉的推论、判断与检测提供实用的建议。协助您透过我们的方案与配套,跨过 AI 智能边缘运算的进入门槛,解决相关情境的应用痛点。

欢迎大家到我们的大大通方案知识库,我们会持续更新相关的议题,用无所不能的AI,让你做出杀手级的应用。

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发布时间:2024年12月16日 13:50  人气:   审核编辑(王静 )
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