NI用于更快捷射频测量的新型技术

供稿：NI-美国国家仪器有限公司

  • 产品介绍：在多核PXI处理器上运行的并行化测量算法比在传统仪器上运行的相似算法，在速度上有显著地提升，用户可以实现降低射频测试成本的需求。
  • 资料格式：pdf
  • 资料大小：0.452MB
  • 授权方式：NI-美国国家仪器有限公司
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  • 发布时间：2008年8月1日 13:59
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