NI 工业测控系统应用资料集(2010)
- 关键词：工业,测控,系统,美国国家仪器
- 产品介绍：
NI LabVIEW图形化开发环境，结合基于配置的工具和强大的编程功能，适于开发配有专业用户界面的测量、分析和控制应用程序。NI LabVIEW和NI PAC帮助用户轻松触及FPGA技术，用户因而能够自行定义控制电路，同时削减了传统自定义硬件中的复杂性和成本。
- 资料格式：zip
- 资料大小：0.794MB
- 授权方式：NI-美国国家仪器有限公司
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- 发布时间：2010年8月19日 16:23
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