为您讲解：新一代的源测量单元技术——NI SourceAdapt技术；如何通过选择模块化源测量单元来设计多通道测试系统、实现测试成本目标；使用最新SMU技术测试各种真实的DUT，同时确保DUT的安全； 如何利用最新模块化SMU的多功能性；选择SMU的几大测量考虑，如IV范围、精确度、源测量准确度等等。更多信息见ni.com/pxi/zhs/。 [详情]
0.0点击量：866下载量：25评论：0发布时间：2014-05-21
资源包内容主要包括影响嵌入式系统市场的关键技术和开发方法； 影响当今嵌入式系统设计团队的重大趋势、机遇、挑战；信息物理系统设计的挑战，及应对大模拟数据时代的到来。更多信息见ni.com/embeddedsystems/zhs/ [详情]
5.0点击量：3833下载量：584评论：2发布时间：2014-05-21
这一实用指南包含推荐的系统架构、真实的范例、测试工程基础知识以及最佳开发实践，了解用于自动化测试的PXI标准平台的基础知识，帮助您借助NI的软件和硬件开发软件定义的测试系统。本指南内容是由NI客户咨询委员会中业界顶尖的测试工程团队以及NI产品研发和测试工程团队共同编写而成的。更多信息见ni.com/pxi/zhs/ ? [详情]
0.0点击量：1710下载量：50评论：0发布时间：2014-05-21
使用NI用于过程控制的OLE(OPC)服务器添加高级分析和控制功能，即通过NI LabVIEW软件和NI RIO硬件至任意可编程逻辑控制(PLC)。 查看本教程，学习如何在OPC服务器中创建标签并使用OPC客户端连接实现LabVIEW和PLC之间的通信。也可了解如何在实时操作系统上使用OPC统一架构(UA)。更多信息见ni.com/embeddedsystems/zhs/。 [详情]
5.0点击量：3514下载量：539评论：1发布时间：2014-05-21
怎样使用来自射频PA的输入信号实现包络跟踪ET，以确定关键的包络跟踪参数。基于这些参数，工程师们提出了基于PXI的测量系统并对其进行分析，该系统可满足包络跟踪测试的严格要求。 [详情]
0.0点击量：2273下载量：35评论：0发布时间：2014-04-28
NI秉承“为工程师和科学家提供工具来增强其生产力、创新力和探索力”的使命，从射频/无线、大模拟数据、信息物理系统、计算模型、移动通信以及STEM的未来方面编写了《NI趋势展望2014》。 [详情]
0.0点击量：1658下载量：43评论：0发布时间：2014-04-28
《自动化测试趋势展望》全面介绍了影响测试和测量行业的关键技术和方法。凭着对技术发展方向趋势的灵敏度，以及测试和测量市场的独特见解，总结出未来五大趋势： 商业策略、系统架构、数据处理、软件和I/O。 [详情]
4.0点击量：3963下载量：224评论：2发布时间：2014-04-28
包含13篇案例应用帮助您完成测试测量项目搭建，如基于cDAQ-9178数据采集箱的磁场信号检测及定位研究、基于USB6221的便携式焊接数据采集处理设备研制、用实时采集系统实现对车用电磁阀性能的微观测试、使用NI C系列I or O模块对轿车底盘系统性能参数的快速采集等13篇精华案例。更多数据采集信息见ni.com/data-acquisition/zhs/。 [详情]
5.0点击量：1710下载量：127评论：1发布时间：2014-03-10
欢迎下载用户解决方案2013优秀论文合订本，本论文集为NI第十四届虚拟仪器技术应用方案征文竞赛获奖论文，从自动化测试与验证，嵌入式工业测控、汽车应用、能源应用、电力应用、院校教学与科研等方面向您一一展现优秀论文精选。下一届征文竞赛，期待您的参与！ [详情]
4.0点击量：2588下载量：273评论：1发布时间：2013-11-29
作为NI全年最大的技术盛会，本届会议嵌入式控制与监测专题为您介绍LabVIEW RIO构架为嵌入式应用提供领先的嵌入式开发平台、基于CompactRIO平台的状态监测及案例分析、以及高级机器系统设计架构及运动控制等。 [详情]
0.0点击量：1260下载量：51评论：0发布时间：2013-11-29