CIOE预告 | 蔡司邀您与“光”同行，重磅发布超精密测量实验室

近年来，在新一轮科技革命和产业变革的时代背景下，光电产业正在成为全球蓬勃兴起的战略性产业。精密光学测量作为其中的重要一环正受到来自汽车、模具、半导体、3C电子、航空航天、通用机械等多领域的快速发展所带来的推动，应用领域亦正逐渐从消费级向工业级不断迈进。

作为全球光学和光电领域的先锋，蔡司的质量检测方案正在不同的应用场景遍地开花——从硬件到软件，从单机到集成。在即将开幕的中国国际光电博览会上，蔡司就将展现“面向光学、电子器件的光学系统复合式质量解决方案，显微分析质量解决方案，三维光学扫描质量解决方案”等。

 蔡司敬请您莅临我们的展位：5B55

 时 间：2023年9月6 - 8日 

 地 点：深圳国际会展中心（宝安新馆）

此外，展会期间（2023.9.6下午2点，蔡司CIOE展位），深圳市计量质量检测研究院还将联合蔡司工业质量解决方案发布超精密测量实验室。现场，观众可以近距离VR畅游超精密测量实验室，感受超高精度坐标测量机的科技之美，同时可以现场预约超精密测量实验室的现场参观与免费试测。

本届CIOE上，蔡司的这些黑科技不要错过：

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应用案例

镜筒黑料质量解决方案

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推荐方案：

ZEISS CONTURA 7106+VAST XT gold

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应用挑战：

镜筒黑料检测要求非常严格，公差往往在0.001mm ~ 0.003mm，涉及直径及同轴度测量，同时测量元素窄小，不易接近。CONTURA配置VAST XT gold主动式测头可实现镜筒黑料的高精度检测同时保证良好的重复性需求，主动式测头测力调整范围在 50-1000mN，可实现低测力测量需求，避免微小测针的折损和划伤工件。

应用案例

PCB表面贴装元器件 显微分析质量解决方案

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推荐方案：

共聚焦显微镜 | ZEISS Smartproof 5

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应用挑战：

失效分析；盲孔深度；镀层高度；需从表面直接测量等。

应用案例

面向注塑壳体及模具

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推荐方案：

蓝光三维光学扫描 | ZEISS ATOS Q

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应用挑战：

• 复杂结构 / 不规则形状 / 快速数据采集 / 逆向设计

• 偏差比对 / 缺陷分析 / 批量检测 / 趋势分析

• 砂芯检测 / 模具检测/调整 /模具修复 / 数据备份

应用案例

汽车零部件高分辨率扫描检测

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推荐方案：

CT无损检测 | ZEISS METROTOM

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应用挑战：

如何高效发现汽车车灯零部件内部缺陷与尺寸特征是否满足设计要求，方便直观分析内部结构以及装配间隙等特征 ，内部隐藏尺寸结构检测，关键部位尺寸在装配过程中是否发生变化。

其他更多质量检测方案

快速灵活的尺寸检测

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推荐方案：

手持激光三维光学扫描 | ZEISS T-SCAN hawk 2

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应用挑战：

面向模型复制、批量检测、3D打印等。向导式远端工作流程、精细的数据细节、批量化数据处理、逆向设计等。