泛华测控高速应变测试解决方案

供稿:北京中科泛华测控技术有限公司

  • 关键词:泛华测控,高速应变测试,PXI,同步多功能采集卡
  • 摘要:泛华测控高速应变测试解决方案应用于多通道、高速并行采集被广泛应用到各种应力测试中,如:风洞实验、振动波分析、声波分析、爆炸信号分析等。

◆应用背景:
  多通道、高速并行采集被广泛应用到各种应力测试中,如:风洞实验、振动波分析、声波分析、爆炸信号分析等。

◆系统描述:
  动态应变信号(增益:1,100,200,500;滤波频 率:10HZ,100HZ,1KHZ,10KHZ):因为需要滤波,采用SCXI 模块并联的方式结合PXI 背板上的触发总线,实现采集模块的同步;采集卡采用PXI 同步多功能采集卡,精度为16bi ts;
  静态应变信号(增益:1,100,200,400,800;滤波 频率:1HZ,10HZ,100HZ):由于速率要求低,所以采用多路转换的SCXI-1102模块。

系统指标:
24通道同步采集系统,每通道200k采样率,64通道静态信号采集。

◆解决方案:
•软件:LabVIEW图形化开发平台
•PXI -8196(嵌入式控制器PM760 2.0G,512M内存,40G硬盘)
•PXI -6123 3块(8通道同步采集卡,16bi ts精 度,500kS/ch采样率)
•SCXI -1143 3块(可编程8通道低通滤波器)
•PXI -1050(8槽PXI /4槽SCXI混合机箱)
•PXI -6220 1块(16通道多功能采集卡,16bi ts精度,250kS/s采样率)
•SCXI -1102 2块(32通道多功能信号放大调理模块)
来源:泛华测控

发布时间:2009年8月13日 13:09  人气:  
若您已是认证注册用户,登录后可免费下载,否则请通过用户认证免费下载
相关链接

我有需求