嵌入式设计技术在选择电源FET中的应用

• 关键词：嵌入式设计技术,,,选择电源FET
• 作者：北京东方中科集成科技股份有限公司
• 摘要：最新的嵌入式设计为各行各业及各种应用提供了大量复杂的新产品和新服务。由于精简成本的限制及提高性能的预期，嵌入式设计正在为各种包括家电、工具、建筑、服装及我们周围几乎所有物品在内的日常应用提供更小、更经济的解决方案。

引言

最新的嵌入式设计为各行各业及各种应用提供了大量复杂的新产品和新服务。由于精简成本的限制及提高性能的预期，嵌入式设计正在为各种包括家电、工具、建筑、服装及我们周围几乎所有物品在内的日常应用提供更小、更经济的解决方案。

 这些嵌入式设计通常会由一个微控制器和各种二级接口构成，如电源。能够放心且迅速简便地选择电源的元器件对提供可靠的更小、更经济的解决方案至关重要。为实现这一目标，您需要使用直观的测试测量工具，快速获得优化结果。那么北京东方中科集成科技股份有限公司在多年与客户的交流及自我总结当中，整理出了此解决方案，仅供参考。本文重点介绍了电源分析实际应用，采用特定测量技术，为嵌入式设计更加高效地选择和确定相应的元器件。

电源分析

在本例中，我们要为开关电源选择最好的电源FET。可以根据FET的电流和开点电阻，相对简便地计算开关电源的静态损耗。晶体管的总功率损耗主要是开关损耗，开关损耗计算起来要困难得多。

 本例的挑战是为这一应用选择最好的元器件，因为成本和功率损耗是一对矛盾。在这里，我们预先确定要测试的四个晶体管。

 

部件编号

ISD

发布时间：2010年7月26日 12:39  人气：   更多内容请访问（北京东方中科集成科技股份有限公司） 相关链接 首页 (0) (0) 收藏 我有需求 我想得到技术资料 我想得到技术支持 我想咨询价格 我想联系销售 详情描述：            关闭