NI发布PXI数字化仪和LabVIEW抖动分析工具包

       2013年4月－ 美国国家仪器公司（National Instruments, 简称 NI）于近日发布NI PXIe-5162数字化仪，并更新了LabVIEW抖动分析工具包。 该数字化仪带有10位垂直分辨率和5 GS/s采样率，它的高速测量垂直分辨率是传统8位示波器的4倍。 NI PXIe-5162单个插槽中具备1.5 GHz的带宽和四个通道，适用于高通道数数字化仪系统的生产测试、研究和设备特性记述。 工程师们因此可以结合使用LabVIEW与数字化仪，以及LabVIEW抖动分析工具包中专门为高吞吐量的抖动、眼图和相位噪声测量优化过的函数库，以满足自动化验证和生产测试环境所需。

       “NI PXIe-5162数字化仪结合了高速、高通道和高分辨率测量三大特点，让传统的示波器用户突破了使用传统箱型仪器进行自动化测试的界限，”NI模块化仪器研发总监Steve Warntjes表示。 “使用我们的高速数字化仪与LabVIEW抖动分析工具包，可以帮助工程师借助现代PC的处理性能，而不是箱型示波器上传统的嵌入式处理器，加快测量系统的速度。”

NI PXIe-5162 特性

   ● 10位垂直分辨率，可更深入地解读信号
   ● 单个3U PXI Express插槽包含4个通道，在一个PXI机箱中可扩展至68个通道

   ● 一个通道上5 GS/s的最大采样率或同时使用四个通道，每通道1.25 GS/s采样率

LabVIEW抖动分析工具包特性

   ● 内置时钟恢复、眼图、抖动、电平和时域测量函数
   ● 眼图和掩膜测试的示例程序，以及使用双狄拉克(dual-Dirac)和基于频谱的分离方法，进行随机抖动和确定性抖动（RJ/ DJ）分离的示例程序

有关数字化仪的更多内容，请访问下列页面：http://www.ni.com/digitizers/zhs/

关于NI

       自1976年以来，美国国家仪器，简称NI (www.ni.com)一直致力于为工程师和科学家提供各种工具来提高效率、加速创新和探索。 NI的图形化系统设计方法为工程界提供了集成式的软硬件平台,有助于加速测量和控制系统的开发。 长期以来，NI一直期望并努力通过自身的技术来改善社会的发展，确保客户、员工、供应商及股东获得成功。

       LabVIEW、National Instrument、NI和ni.com为美国国家仪器有限公司（National Instruments）的商标。 此处提及的其它产品和公司名称均为其各自公司的商标或商业名称。