NIDays2014之嵌入式控制与监测专题资源包

供稿:NI-美国国家仪器有限公司

  • 关键词:RIO,,FPGA,,嵌入式测控
  • 产品介绍:作为NI全年最大的技术盛会,本届会议嵌入式控制与监测专题为您介绍状态监测应用的全新企业级解决方案、借助全新高性能CompactRIO控制器简化控制系统复杂度、使用FPGA技术增强您的应用的3大理由、为您的下一个测量或控制应用选择合适的开发平台等。更多嵌入式控制与监测信息请访问ni.com/embeddedsystems/zhs/。
  • 资料格式:zip
  • 资料大小:16.513MB
  • 授权方式:NI-美国国家仪器有限公司
  • 下载人气:
  • 发布时间:2014年12月5日 13:45
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